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扫描电子显微镜: 日本日立 S-3400N
发布人:admin 发布时间:2017-03-28 浏览次数:898次

扫描电子显微镜: 日本日立 S-3400N

 

技术参数:

SE分辨率:3.0 nm (30 kV),高真空模式,10 nm (3 kV), 高真空模式

BSE分辨率:4.0 nm (30 kV),低真空模式

放大倍率: ×5~×300,000,

加速电压:0.3~30 kV

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